微電腦涂鍍層測厚儀MiniTest 730 N 2.5
上海雙旭微電腦涂鍍層測厚儀 MiniTest 730 N 2.5
產(chǎn)品參數(shù)
測量原理：磁性感應(yīng)（用于測量非磁性基體上的磁性涂層，如鋼鐵上的鋅、鉻、油漆等）。
測量范圍：0 ~ 2000 μm（具體取決于探頭配置，典型值0-2000μm）。
分辨率：0.1 μm (0-99.9μm)， 1 μm (100μm以上)。
測量精度：±（1-3%讀數(shù) + 1μm），具體精度取決于校準(zhǔn)和測量條件。
探頭類型：N型內(nèi)置探頭，一體式設(shè)計。
校準(zhǔn)方式：零點校準(zhǔn)和多點校準(zhǔn)（通常配備隨機的校準(zhǔn)箔片）。
顯示：背光液晶顯示屏（LCD）。
數(shù)據(jù)存儲：通常具備數(shù)據(jù)存儲和統(tǒng)計功能（如平均值、最大值、最小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差）。
電源：通常使用AA電池或可充電電池。
工作溫度：通常為0°C ~ 40°C。
外形尺寸：緊湊型手持設(shè)計，具體尺寸需參考官方數(shù)據(jù)。
使用注意事項
校準(zhǔn)：使用前必須在與待測工件相同材質(zhì)和曲率的無涂層基體上進行零點校準(zhǔn)，并使用接近預(yù)期厚度的標(biāo)準(zhǔn)片進行多點校準(zhǔn)，以確保測量準(zhǔn)確性。
基體影響：基體的材質(zhì)、厚度、曲率、表面粗糙度和剩磁都會影響測量結(jié)果。對于薄壁或小口徑工件，需特別注意。
探頭放置：測量時探頭需垂直于被測表面，并保持穩(wěn)定。施加的壓力要均勻一致。
邊緣效應(yīng)：避免在靠近邊緣、孔洞或劇烈彎曲的位置測量，應(yīng)保持探頭距離邊緣至少為探頭直徑的距離。
表面清潔：被測表面必須清潔，無油污、灰塵、銹蝕或其他附著物。
溫度：避免在極端的溫度環(huán)境下使用，儀器和校準(zhǔn)基體/標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)處于相同溫度。
干擾：強電磁場環(huán)境可能干擾磁性測量原理，應(yīng)遠(yuǎn)離此類環(huán)境。
維護：保持探頭測量面清潔，避免磨損和撞擊。長期不用時應(yīng)取出電池。
標(biāo)準(zhǔn)片：校準(zhǔn)用的標(biāo)準(zhǔn)箔片應(yīng)妥善保管，防止彎曲、折痕或腐蝕。
讀數(shù)解釋：對于多層涂層系統(tǒng)，該型號通常測量的是總厚度，無法區(qū)分各單層厚度。
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