微電腦涂鍍層測厚儀MiniTest 730 F 1.5
上海雙旭微電腦涂鍍層測厚儀 MiniTest 730 F 1.5
MiniTest 730 F 1.5 是一款基于磁感應原理設計的便攜式涂鍍層測厚儀，適用于精確測量鐵磁性金屬基體（如鋼、鐵）上的非磁性涂層厚度。
產品參數
- 測量原理：磁感應
- 測量范圍：0 ~ 1500 μm (1.5 mm)
- 分辨率：0.1 μm (0 ~ 99.9 μm)， 1 μm (100 μm 以上)
- 測量精度：± (1~3% 讀數 + 1 μm)，具體取決于校準和基體條件
- 最小曲率：凸面5mm，凹面25mm
- 最小測量面積：直徑10mm
- 最小基體厚度：0.5mm
- 顯示：背光LCD數字顯示
- 校準：零點校準和多點校準
- 數據存儲：通常具備，具體容量需參考說明書
- 電源：通常為AA電池
- 工作溫度：通常為0°C ~ 40°C
- 探頭類型：一體式或分體式固定探頭（F型）
- 外殼：通常為工程塑料，具有防摔、防塵特性
使用注意事項
- 基體要求：僅適用于鐵磁性金屬基體。測量非磁性基體（如鋁、銅、不銹鋼）上的涂層需選用渦流原理型號。
- 校準：使用前必須在與待測工件材質、曲率及表面粗糙度相近的未涂覆基體上進行零點校準。對于高精度要求，建議使用標準片進行多點校準。
- 測量表面：待測表面應清潔、干燥，無灰塵、油污、銹蝕及雜質，以免影響測量準確性。
- 基體厚度：確�；w厚度大于“最小基體厚度”，否則測量會受基體背面形狀或材質影響。
- 邊緣效應：測量點應遠離邊緣、孔洞、焊縫或劇烈彎曲處，一般需保持距離邊緣至少10mm。
- 曲率影響：在小曲率表面測量時，曲率會影響讀數，應使用曲率校準功能或在相同曲率的校準件上校準。
- 探頭放置：測量時探頭需垂直、平穩地緊貼被測表面，避免傾斜或晃動。
- 磁場干擾：避免在強磁場環境或電氣設備附近使用，以防干擾探頭工作。
- 溫度影響：避免在極高或極低溫度下使用，極端溫度可能影響電子元件性能和測量精度。
- 維護保養：保持探頭測量面清潔，避免磨損、碰撞。長期不用時應取出電池。
- 數據解讀：對于粗糙表面或薄涂層，建議多次測量取平均值以提高可靠性。
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