測涂鍍層測厚儀頭F 2
上海雙旭測涂鍍層測厚儀頭F 2
上海雙旭電子有限公司生產(chǎn)的涂鍍層測厚儀探頭，型號F 2，是一款用于無損測量金屬基體上非導(dǎo)電涂層厚度的磁性測厚儀探頭。
產(chǎn)品參數(shù)
- 測量原理：磁性感應(yīng)（磁阻或霍爾效應(yīng)）。
- 適用基體：鐵、鋼等磁性金屬。
- 適用涂層：油漆、粉末涂層、塑料、搪瓷等非磁性覆蓋層。
- 探頭類型：通常為分體式或一體式探頭，具體取決于主機(jī)型號。
- 測量范圍：通常為0~1250μm（具體范圍需匹配主機(jī)性能）。
- 精度：高精度，典型值±(1~3%讀數(shù)+1~2μm)，取決于具體型號和校準(zhǔn)條件。
- 最小曲率：支持小面積和一定曲率表面的測量（具體數(shù)值需參考說明書）。
- 最小基體厚度：通常要求基體厚度大于某一臨界值（如1mm），以避免基體厚度不足影響測量。
- 工作溫度：典型操作溫度范圍0℃~40℃。
- 連接方式：與上海雙旭對應(yīng)型號的測厚儀主機(jī)專用接口連接。
使用注意事項(xiàng)
- 校準(zhǔn)：使用前必須在與待測工件材質(zhì)、曲率相同的無涂層基體上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，并使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行多點(diǎn)校準(zhǔn)以確保精度。
- 基體影響：基體材料的磁性變化（如不同牌號鋼材）會影響測量，測量不同材料前應(yīng)重新校準(zhǔn)。
- 表面清潔：測量前需確保被測表面清潔，無灰塵、油污、銹蝕及雜質(zhì)，以免影響探頭接觸和測量結(jié)果。
- 測量壓力：探頭應(yīng)垂直于被測表面，保持恒定、適中的壓力，避免用力過猛損壞探頭或涂層。
- 邊緣效應(yīng)：避免在靠近邊緣、孔洞或劇烈彎曲的位置測量，應(yīng)保持探頭距離邊緣至少大于探頭直徑的距離。
- 溫度穩(wěn)定性：避免在溫度劇烈變化的環(huán)境中使用，被測物與標(biāo)準(zhǔn)基體/片溫差過大將引入誤差。
- 探頭保護(hù)：探頭測頭為精密部件，避免撞擊、刮擦，使用后應(yīng)清潔并妥善存放。
- 電磁干擾：遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁場環(huán)境使用，以防讀數(shù)不穩(wěn)定。
- 主機(jī)匹配：該探頭需與指定的上海雙旭測厚儀主機(jī)型號配套使用，不可隨意與其他品牌或型號主機(jī)連接。
注：以上信息為通用技術(shù)描述，具體技術(shù)指標(biāo)、操作流程及兼容主機(jī)型號請務(wù)必以上海雙旭電子有限公司提供的官方產(chǎn)品說明書為準(zhǔn)。
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