自動型涂鍍層測厚儀MikroTest G 6
上海雙旭自動型涂鍍層測厚儀MikroTest G 6
產(chǎn)品參數(shù)
- 測量原理：磁性感應（Fe基）/渦流（NFe基）
- 測量范圍：0~2000μm（具體取決于探頭配置）
- 分辨率：0.1μm / 1μm
- 精度：±（1~3%讀數(shù)+1μm）
- 最小曲率：凸面5mm，凹面25mm（取決于探頭）
- 最小測量面積：直徑10mm
- 最薄基體厚度：Fe基0.2mm，NFe基0.05mm
- 校準方式：零點校準、兩點校準
- 數(shù)據(jù)存儲：通常具備分組存儲和統(tǒng)計功能
- 顯示：背光LCD顯示屏
- 電源：可充電電池
- 接口：可能配備USB或RS232數(shù)據(jù)輸出接口
- 工作溫度：通常為0℃~40℃
產(chǎn)品簡介
MikroTest G 6是一款便攜式、自動識別基體的涂鍍層測厚儀。它采用雙功能探頭，可自動識別鐵基（Fe）與非鐵基（NFe）材料，并切換相應的磁性感應法或渦流法進行測量。儀器操作簡便，適用于現(xiàn)場快速、無損的涂層和鍍層厚度檢測。
使用注意事項
- 校準：使用前必須在與待測工件相同材質(zhì)和曲率的無涂層基體上進行校準，并定期使用標準片校驗。
- 基體影響：基體的材質(zhì)、厚度、曲率、表面粗糙度及剩磁（對磁性法）會影響測量精度，需按規(guī)范補償。
- 探頭放置：測量時探頭需垂直于被測表面，穩(wěn)定接觸，避免傾斜、晃動或壓力不均。
- 邊緣效應：測量點應遠離邊緣、孔洞或劇烈彎曲處，一般需保持距離大于探頭直徑。
- 環(huán)境條件：避免在強電磁場、高溫、高濕或腐蝕性氣體環(huán)境中使用和存放。
- 表面清潔：確保被測表面清潔，無油污、灰塵、氧化皮等附著物。
- 電池管理：長期不用應取出電池，避免電池漏液損壞儀器。
- 探頭保護：探頭為精密部件，避免撞擊、磨損或接觸腐蝕性物質(zhì)。
- 數(shù)據(jù)解讀：對于多層涂層或特殊鍍層（如鋅合金），測量值可能需特殊解讀或使用專用模式。
- 標準遵循：具體操作應嚴格遵循產(chǎn)品說明書及相關(guān)國家標準（如GB/T 4956， GB/T 4957）。
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