上海雙旭自動型涂鍍層測厚儀MikroTest S10
MikroTest S10是一款用于快速、無損測量金屬基體上非導電涂層或鍍層厚度的自動型儀器。
產品參數
- 測量原理：磁感應原理（適用于鋼鐵基體）或渦流原理（適用于非鐵金屬基體）。
- 測量范圍：通常為0-1000μm（具體視探頭配置而定）。
- 分辨率：1μm 或 0.1mil。
- 精度：通常為±（1-3%讀數+1μm），取決于測量條件和標準片。
- 探頭類型：自動識別鐵基/非鐵基，或配置分體式探頭。
- 校準方式：零點校準和多點校準。
- 數據存儲：內置存儲器，可存儲多組測量數據。
- 顯示：數字LCD顯示屏。
- 電源：常規電池供電。
- 輸出接口：可能配備RS232或USB接口用于數據傳輸。
- 工作溫度：通常為0°C至40°C。
使用注意事項
- 基體確認：測量前必須明確基體材料（鐵磁或非鐵磁），并選擇對應測量模式或探頭。
- 校準：使用前必須在與待測工件相同材質和曲率的無涂層基體上進行零點校準，并使用標準片進行多點校準以確保精度。
- 表面清潔：待測表面必須清潔，無灰塵、油污、氧化皮等雜質，否則會影響測量結果。
- 曲率與形狀：工件曲率過小或形狀復雜會影響測量，應使用專用探頭或在類似曲率的基體上校準。
- 測量壓力與角度：測量時探頭應垂直、平穩地接觸被測表面，避免傾斜或施加過大壓力。
- 邊緣效應：測量點應遠離邊緣、孔洞或劇烈形狀變化處，一般需保持至少距邊緣5mm以上。
- 基體厚度：對于薄板或小零件，需確保基體厚度滿足儀器最小厚度要求，否則需在相同厚度的基體上校準。
- 溫度穩定性：避免在劇烈溫度變化的環境中使用，儀器和標準片應與被測工件處于相同溫度。
- 磁場干擾：遠離強磁場環境（如大型電機、變壓器），以免干擾磁感應測量。
- 維護：定期使用標準片檢查儀器精度，保持探頭清潔，避免撞擊。長期不用時應取出電池。
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