D型磁粉試片磁粉靈敏度試片磁粉探傷標準試片磁粉試片
上海雙旭D型磁粉靈敏度試片（磁粉探傷標準試片）
產(chǎn)品概述
上海雙旭D型磁粉試片是一種用于評價和校驗磁粉探傷系統(tǒng)綜合性能（包括磁化方法、磁化規(guī)范、磁粉性能及操作工藝等）的標準靈敏度試片。它通常由純鐵薄片制成，表面刻有圓形或十字形人工缺陷（槽），是磁粉檢測中不可或缺的定量化校驗工具。
主要產(chǎn)品參數(shù)
- 型號： D 型系列（常見如 D-60、D-30、D-15等，數(shù)字代表試片厚度，單位微米）
- 材質(zhì)： 高純低碳純鐵
- 結(jié)構(gòu)： 表面覆蓋有透明保護膜，中心刻有圓形或十字形人工槽缺陷
- 缺陷形式： 圓形（如Φ6mm）或十字形刻槽
- 試片厚度： 常見規(guī)格有 15μm、30μm、60μm、100μm等，厚度越小，靈敏度要求越高
- 靈敏度等級： 厚度越薄，靈敏度等級越高（如D-15為高靈敏度，D-60為中等靈敏度）
- 用途： 用于校驗濕法磁粉探傷的磁懸液性能、磁化規(guī)范及系統(tǒng)靈敏度
- 符合標準： 通常符合JB/T 6065-2004《無損檢測 磁粉檢測用試片》等國家標準及行業(yè)規(guī)范
使用注意事項
- 使用前檢查： 使用前應(yīng)檢查試片是否清潔，保護膜是否完好，有無銹蝕或機械損傷。
- 粘貼牢固： 將試片人工槽一側(cè)緊貼被檢工件表面，確保完全貼合，無氣泡。通常使用透明膠帶固定，注意膠帶不可覆蓋缺陷槽部位。
- 位置選擇： 應(yīng)放置在磁化區(qū)域內(nèi)有代表性、磁場方向與缺陷槽大致垂直的位置，以校驗最不利方向的檢測能力。
- 規(guī)范操作： 按照既定的磁粉探傷工藝（磁化電流、磁懸液濃度、噴灑方式等）進行操作。
- 結(jié)果判讀： 觀察試片上人工缺陷的磁痕顯示清晰度、連續(xù)性和寬度。以此判斷系統(tǒng)靈敏度是否達到要求。
- 清潔保養(yǎng)： 使用后應(yīng)立即小心取下，用溶劑（如丙酮）清潔并晾干，貼回原保護膜，放回保護盒內(nèi)存放，防止折損和氧化。
- 定期更換： 試片為消耗品，出現(xiàn)嚴重磨損、變形、銹蝕或磁痕顯示能力明顯下降時應(yīng)及時更換。
- 環(huán)境要求： 避免在強腐蝕性環(huán)境或強磁場附近存放。
- 專用性： D型試片主要適用于濕法磁粉檢測，干法磁粉檢測應(yīng)選用對應(yīng)類型的試片（如A型）。
功能與重要性
D型試片通過其標準的人工缺陷，為磁粉檢測工藝提供了直觀、可復現(xiàn)的校驗手段。它能有效驗證在特定工藝參數(shù)下，檢測系統(tǒng)能否發(fā)現(xiàn)微小缺陷，是保證磁粉探傷結(jié)果可靠性、一致性和可比性的關(guān)鍵工具，廣泛應(yīng)用于航空航天、電力、承壓設(shè)備、軌道交通等領(lǐng)域的無損檢測質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。
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