D型磁粉試片磁粉靈敏度試片磁粉探傷標準試片磁粉試片
上海雙旭D型磁粉靈敏度試片(磁粉探傷標準試片)
產(chǎn)品概述
上海雙旭D型磁粉試片是一種用于評價和校驗磁粉探傷系統(tǒng)綜合性能(包括磁化方法、磁化規(guī)范、磁粉性能及操作工藝等)的標準靈敏度試片。它通常由純鐵薄片制成,表面刻有圓形或十字形人工缺陷(槽),是磁粉檢測中不可或缺的定量化校驗工具。
主要產(chǎn)品參數(shù)
- 型號: D 型系列(常見如 D-60、D-30、D-15等,數(shù)字代表試片厚度,單位微米)
- 材質(zhì): 高純低碳純鐵
- 結(jié)構(gòu): 表面覆蓋有透明保護膜,中心刻有圓形或十字形人工槽缺陷
- 缺陷形式: 圓形(如Φ6mm)或十字形刻槽
- 試片厚度: 常見規(guī)格有 15μm、30μm、60μm、100μm等,厚度越小,靈敏度要求越高
- 靈敏度等級: 厚度越薄,靈敏度等級越高(如D-15為高靈敏度,D-60為中等靈敏度)
- 用途: 用于校驗濕法磁粉探傷的磁懸液性能、磁化規(guī)范及系統(tǒng)靈敏度
- 符合標準: 通常符合JB/T 6065-2004《無損檢測 磁粉檢測用試片》等國家標準及行業(yè)規(guī)范
使用注意事項
- 使用前檢查: 使用前應(yīng)檢查試片是否清潔,保護膜是否完好,有無銹蝕或機械損傷。
- 粘貼牢固: 將試片人工槽一側(cè)緊貼被檢工件表面,確保完全貼合,無氣泡。通常使用透明膠帶固定,注意膠帶不可覆蓋缺陷槽部位。
- 位置選擇: 應(yīng)放置在磁化區(qū)域內(nèi)有代表性、磁場方向與缺陷槽大致垂直的位置,以校驗最不利方向的檢測能力。
- 規(guī)范操作: 按照既定的磁粉探傷工藝(磁化電流、磁懸液濃度、噴灑方式等)進行操作。
- 結(jié)果判讀: 觀察試片上人工缺陷的磁痕顯示清晰度、連續(xù)性和寬度。以此判斷系統(tǒng)靈敏度是否達到要求。
- 清潔保養(yǎng): 使用后應(yīng)立即小心取下,用溶劑(如丙酮)清潔并晾干,貼回原保護膜,放回保護盒內(nèi)存放,防止折損和氧化。
- 定期更換: 試片為消耗品,出現(xiàn)嚴重磨損、變形、銹蝕或磁痕顯示能力明顯下降時應(yīng)及時更換。
- 環(huán)境要求: 避免在強腐蝕性環(huán)境或強磁場附近存放。
- 專用性: D型試片主要適用于濕法磁粉檢測,干法磁粉檢測應(yīng)選用對應(yīng)類型的試片(如A型)。
功能與重要性
D型試片通過其標準的人工缺陷,為磁粉檢測工藝提供了直觀、可復現(xiàn)的校驗手段。它能有效驗證在特定工藝參數(shù)下,檢測系統(tǒng)能否發(fā)現(xiàn)微小缺陷,是保證磁粉探傷結(jié)果可靠性、一致性和可比性的關(guān)鍵工具,廣泛應(yīng)用于航空航天、電力、承壓設(shè)備、軌道交通等領(lǐng)域的無損檢測質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。
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