C型磁粉探傷靈敏度試片磁粉探傷檢測磁痕用試片
上海雙旭C型磁粉探傷靈敏度試片
產品概述
C型靈敏度試片是一種用于評價磁粉探傷系統綜合性能（包括磁場方向、強度、磁化方法、磁粉及磁懸液性能、操作方法等）的定量工具。它通過在試片人工缺陷上形成的磁痕顯示，直觀地驗證檢測靈敏度是否達到要求。
產品參數
- 型號：C型（圓形）
- 材料：低碳鋼（通常為DT4A等）
- 尺寸：常見外徑約φ15mm，厚度通常為50μm或100μm
- 人工缺陷：試片中央帶有圓形人工刻槽（通常為φ1mm的圓形槽）
- 靈敏度等級：通常按刻槽深度劃分，例如：5/100μm、7/100μm、10/100μm等（分子為槽深，分母為試片厚度）
- 表面狀態：一面為光面，另一面通常有保護膜或經防銹處理
- 用途：適用于評價周向磁化（或磁場方向與試片表面平行）的檢測靈敏度
使用注意事項
- 粘貼要求：使用前需將試片緊貼于被檢工件表面（光面朝向工件），確保完全貼合，無間隙。通常使用透明膠帶固定，膠帶不得覆蓋人工缺陷區域。
- 位置選擇：應放置在預期磁場較弱的區域或檢測關鍵區域，以驗證該處靈敏度是否達標。
- 磁化操作：按正常檢測工藝對工件（連同試片）進行磁化和噴淋磁懸液。試片上的磁痕顯示應清晰、連續。
- 結果判定：磁化后，試片圓形刻槽應能形成清晰、完整的閉合環形磁痕。若磁痕不連續或無法顯示，則表明檢測靈敏度不足，需調整工藝參數。
- 清潔與保存：使用后需清潔試片表面殘留的磁粉，干燥后妥善保存于干燥環境中，防止變形、銹蝕或劃傷。
- 定期校驗：試片為消耗品，應定期檢查其是否發生疲勞、磨損或損壞。若人工缺陷顯示特性發生明顯變化，應及時更換。
- 適用范圍：C型試片主要用于評價平行于工件表面的磁場靈敏度，不適用于評價法向磁場（需使用A型或其它類型試片）。
- 標準依據：使用時應遵循相關檢測標準（如JB/T 6065《無損檢測 磁粉檢測用試片》）的要求。
磁性接近開關 方形磁控開關 門磁開關 磁簧開關單價便宜     ALIF 磁性 感應開關AL-39R 2米線 防爆磁性開關 上一篇 德國MEDAN無桿氣缸專用磁性開關 ZRS-11限位開關 http://www.sunkiss.cc/product/d113737.html |
