YB3117在線/離線集成電路測試器
產品概述
YB3117在線/離線集成電路測試器是一款功能全面的數字集成電路測試設備，適用于多種集成電路的測試需求。該設備采用插槽式結構設計，所有系統板通過機箱背板連接，支持靈活配置測試模塊。測試器通過PCI接口與計算機相連，實現智能化控制，可同時完成兩個被測器件的并行測試，顯著提升測試效率。13
核心功能特點
該測試器支持TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU及可編程器件等多種集成電路的測試，具備圖形顯示（時序顯示）和狀態顯示功能，可直觀呈現測試結果。設備內置開放式自建芯片數據庫，用戶可根據需求擴展測試庫。測試速度達到500kHz/Pin，每引腳輸出電流為100mA，滿足中小規模程序的調試需求。此外，設備還支持V-I特性曲線測試，幫助用戶深入分析器件性能。2410
硬件設計與操作體驗
YB3117采用緊湊型設計，外形尺寸為90H×350W×350D(mm)，重量約4.7kg，便于實驗室或生產現場使用。設備配備中文Windows操作平臺，界面友好，操作簡便。測試器支持智能儀器程序的復制、保存功能，以及EPROM器件的復制、修改和組合操作，為用戶提供全面的集成電路測試解決方案。工作環境溫度為0°C~30°C，適應大多數測試場景需求。5712
應用場景與優勢
該測試器適用于電子制造、科研院所和教育機構等多個領域，可用于檢驗新購器件質量、調試開發程序等場景。設備具有體積小、重量輕的特點，在保證測試精度的同時提供了較高的性價比。繼電器矩陣板的配置實現了被測器件與測試儀各通道之間的靈活切換，提升了測試的便捷性。6816
YB3117在線/離線集成電路測試器
的詳細介紹
大測試引腳數100：
中文Windows操作平臺：
開放式自建芯片和數據庫。 |
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YB3117/YB3118
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| 測試種類 |
可測試TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU及可編程器件 |
| 顯示方式 |
圖形顯示(時序顯示)、狀態顯示 |
| 被測芯片腳數 |
100腳以下 |
| 大輸出電流 |
每引腳100mA |
| 測試速度 |
500kHz/Pin |
| 中文Windows操作平臺 |
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| 開放式自建芯片的數據庫 |
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| V-1特性曲線測試 |
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| 工作溫度 |
0°C~30°C |
| 工作濕度 |
75% |
| 功耗 |
約45W(不包括供待測板的功耗) |
| 工作電壓 |
220V±10% |
| YB3117配臺式電腦 |
YB3118配筆記本電腦 |
| 外形尺寸 |
90H×350W×350D(mm) |
| 質量 |
約4.7kg |
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