YB-4812半導體圖示儀
產(chǎn)品概述
上海雙旭YB-4812半導體圖示儀是一款專為半導體器件特性分析設(shè)計的精密測量設(shè)備，適用于二極管、晶體管、晶閘管等器件的靜態(tài)參數(shù)測試與特性曲線展示。其模塊化設(shè)計兼顧實驗室研發(fā)與產(chǎn)線快速檢測需求，可幫助用戶高效完成器件性能評估。
核心功能特點
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寬范圍測試能力
支持電壓0-2000V、電流0-20A的寬泛測試范圍，覆蓋大功率器件與小信號器件的測試需求，適配多種半導體材料特性分析。
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高精度數(shù)據(jù)采集
采用數(shù)字化信號處理技術(shù)，確保電壓/電流測量精度優(yōu)于±0.5%，曲線掃描分辨率達0.1mV，能夠清晰呈現(xiàn)器件的細微特性變化。
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智能化操作界面
配備7英寸觸摸屏，支持手動調(diào)節(jié)與自動掃描模式切換，內(nèi)置常見器件測試模板，用戶可通過直觀的圖形化界面快速完成參數(shù)配置。
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多維度數(shù)據(jù)輸出
可實時顯示IV特性曲線、導通電阻、擊穿電壓等關(guān)鍵參數(shù)，測試結(jié)果支持本地存儲及外部設(shè)備導出，便于后續(xù)數(shù)據(jù)比對與分析。
典型應用場景
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半導體器件研發(fā)階段的特性驗證
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產(chǎn)線批量檢測與質(zhì)量篩查
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教學實驗中器件工作原理演示
設(shè)計細節(jié)優(yōu)化
設(shè)備采用分體式探頭設(shè)計，降低測試回路干擾；內(nèi)置過壓過流保護機制，保障操作安全性；散熱結(jié)構(gòu)經(jīng)過優(yōu)化，確保長時間連續(xù)工作穩(wěn)定性。
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