31WIIA二米平面光柵攝譜儀
以下是上海雙旭31WIIA二米平面光柵攝譜儀的產品介紹，整合了公開資料的核心信息：
產品概述
上海雙旭電子有限公司供應的31WIIA二米平面光柵攝譜儀，是一款專注于光譜分析的高精度設備。其設計適用于金屬合金（包括礦物）、純金屬及各類材料的成分檢測，支持日常定性定量分析任務，并能配合附件拓展激光微區分析等功能124。
核心參數與性能特點
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光學系統
- 工作波段：覆蓋200-1000nm，兼容紫外至近紅外光譜范圍，滿足多元素分析需求。
- 焦距與孔徑：焦距2100mm，相對孔徑1:28，優化了光通量和分辨率平衡。
- 光柵配置：配備雙光柵系統，包括1200條/mm（2塊）及600條/mm（1塊）光柵，支持靈活切換以適應不同精度要求14。
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精密機械結構
- 狹縫設計：寬度調節范圍0.002-0.3毫米，分度值達0.001毫米，支持微米級精度控制，確保光譜清晰度。
- 穩定性：二米長焦距結構結合剛性基座，減少環境振動干擾，保障長期測試一致性4。
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應用擴展性
- 通過搭配專用附件，可拓展至激光微區分析、瞬態閃光現象記錄及弱光信號捕捉等場景，適應科研與工業復雜需求24。
典型應用領域
- 材料成分分析：快速鑒定金屬合金中的元素組成及雜質含量。
- 礦物研究：輔助地質樣品的光譜特征解析。
- 工藝質量控制：用于冶金、機械制造等行業的原材料與成品檢測12。
功能優勢總結
該設備通過長焦距光路設計和高精度光柵組合，實現了寬波段、高分辨率的光譜采集能力。其模塊化結構便于功能擴展，適用于從常規實驗室分析到前沿科研的多層次需求，為材料科學、工業質檢等領域提供可靠的數據支撐14。
注：以上描述基于公開技術參數與應用案例，未涉及廣告禁用詞匯及認證信息。產品具體性能可能因配置調整，建議參考制造商最新技術文檔。
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