TG328A/S光學分析天平
上海雙旭TG328A/S光學分析天平是一款專為實驗室精密稱量設計的雙盤機械天平，適用于工礦企業、科研機構及高等院校的實驗室場景，能夠滿足高精度物質分析需求。以下從核心參數、結構設計及適用范圍三方面進行詳細介紹：
一、核心參數
- 量程與精度：稱量范圍為0～200g，分度值達0.1mg，支持微量物質的精確測量13。
- 光學讀數系統：光學顯示范圍為0-10mg，通過高靈敏度光學放大裝置清晰呈現微小質量變化，減少人工讀數誤差13。
- 機械減碼功能：配備機械減碼裝置，支持0.01-199.99g范圍內的快速減碼操作，提升稱量效率13。
二、結構設計
- 雙盤機械結構：采用雙盤平衡設計，確保稱量過程的穩定性和重復性14。
- 部件規格：稱盤直徑為Φ75mm，可容納常規實驗器皿；整機外型尺寸為420×370×500mm，緊湊設計節省實驗臺空間13。
- 耐用材質：主體結構采用高強度金屬材料，凈重約20kg，兼顧穩固性與長期使用壽命1。
三、適用范圍
該產品主要服務于實驗室的精密分析場景，例如化學試劑配制、材料成分檢測、教學實驗等。其高精度特性使其在醫藥研發、環境監測等領域中表現出色，尤其適合需要重復性驗證的實驗流程134。
四、操作與維護
天平采用直觀的機械操作界面，支持快速校準和日常維護。用戶可通過調節機械減碼裝置實現不同量程切換，配合光學系統實時監控稱量結果，操作便捷且維護成本較低14。
綜上，TG328A/S光學分析天平通過精密機械結構與光學顯示技術的結合，實現了高精度、高穩定性的稱量性能，是實驗室日常分析與科研工作的可靠工具。
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