WJL激光粒度儀一運用Mie散射原理一
上海雙旭WJL激光粒度儀技術解析
核心原理與技術創新
WJL激光粒度儀采用經典Mie散射理論作為測量基礎，通過高靈敏度光電探測器接收顆粒對激光的散射信號。儀器內置光學系統采用多波長激光光源與環形探測器陣列設計，結合傅里葉透鏡組實現0.1-1000μm的寬量程檢測，特別適用于亞微米至毫米級顆粒的精確測量。動態光路補償技術可有效消除環境光干擾，確保在復雜工況下的數據穩定性。
智能化操作體系
設備搭載自主開發的散射模型算法，實現實時全量程自動對焦功能，配合三維自動進樣系統，可完成連續批次樣品的無人值守檢測。10.1英寸觸控屏集成向導式操作界面，支持一鍵式參數優化和測量模式切換，內置超過200種常見材料的折射率數據庫，用戶可根據實際需求自定義光學參數。
行業應用場景
在粉體材料領域，該儀器可精準分析碳酸鈣、鈦白粉等工業粉體的粒徑分布；在新能源行業，適用于鋰電池正負極材料、硅碳復合材料的工藝控制；醫藥領域可檢測原料藥顆粒的均勻性。儀器配備溫控式濕法分散系統和干法氣溶膠模塊，滿足不同物態樣品的測試需求。
數據可靠性保障
通過雙通道信號校驗機制和動態基線校正技術，重復性誤差控制在1%以內。測量結果支持多格式導出，包含體積分布、數量分布、表面積分布等12種統計模型，兼容第三方數據分析軟件平臺。
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