YB-3114集成電路測試儀
上海雙旭YB-3114集成電路測試儀是一款專為數字電路測試設計的設備，適用于集成電路的在線/離線檢測與分析。以下是其核心功能與技術特點的綜合介紹：
1. 核心功能特性
- 多類型支持：可測試TTL、CMOS等常見數字集成電路，覆蓋小規模（SST）、中規模（MSI）及大規模（LSI）芯片13。
- 高效測試能力：最大支持40引腳芯片測試，單引腳測試速度達500kHz，滿足快速批量檢測需求15。
- 智能比對系統：內置標準芯片數據庫，支持與自學習庫進行比對分析，提升故障定位準確性13。
2. 技術指標
- 顯示方式：提供時序波形圖形化顯示與邏輯狀態文本顯示，便于工程師直觀分析信號完整性13。
- 操作便捷性：采用中文菜單界面，簡化操作流程，降低使用門檻15。
- 硬件配置：整機功耗約45W，適配220V±10%寬電壓電源，工作環境溫度0-30℃，適合實驗室及工業現場15。
3. 應用場景
- 電子制造：用于生產線上的芯片出廠檢測，確保良品率。
- 設備維修：支持電路板級故障排查，快速識別損壞芯片。
- 研發驗證：輔助開發階段的功能驗證與時序分析。
4. 擴展性與兼容性
- 開放式數據庫：允許用戶自定義添加新芯片參數，適應不同型號的測試需求3。
- 緊湊設計：設備體積為350×350×90mm（寬×深×高），重量約4.7kg，便于移動與部署5。
該產品通過平衡性能與易用性，為電子行業提供了一種可靠的測試解決方案，適用于教育、工業檢測及技術研究等多領域。其設計注重實用性，例如圖形化顯示功能可幫助用戶快速定位時序異常，而多規模芯片支持則增強了設備泛用性13。
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