YB-3114集成電路測(cè)試儀
上海雙旭YB-3114集成電路測(cè)試儀是一款專為數(shù)字電路測(cè)試設(shè)計(jì)的設(shè)備，適用于集成電路的在線/離線檢測(cè)與分析。以下是其核心功能與技術(shù)特點(diǎn)的綜合介紹：
1. 核心功能特性
- 多類型支持：可測(cè)試TTL、CMOS等常見數(shù)字集成電路，覆蓋小規(guī)模（SST）、中規(guī)模（MSI）及大規(guī)模（LSI）芯片13。
- 高效測(cè)試能力：最大支持40引腳芯片測(cè)試，單引腳測(cè)試速度達(dá)500kHz，滿足快速批量檢測(cè)需求15。
- 智能比對(duì)系統(tǒng)：內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)芯片數(shù)據(jù)庫(kù)，支持與自學(xué)習(xí)庫(kù)進(jìn)行比對(duì)分析，提升故障定位準(zhǔn)確性13。
2. 技術(shù)指標(biāo)
- 顯示方式：提供時(shí)序波形圖形化顯示與邏輯狀態(tài)文本顯示，便于工程師直觀分析信號(hào)完整性13。
- 操作便捷性：采用中文菜單界面，簡(jiǎn)化操作流程，降低使用門檻15。
- 硬件配置：整機(jī)功耗約45W，適配220V±10%寬電壓電源，工作環(huán)境溫度0-30℃，適合實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)15。
3. 應(yīng)用場(chǎng)景
- 電子制造：用于生產(chǎn)線上的芯片出廠檢測(cè)，確保良品率。
- 設(shè)備維修：支持電路板級(jí)故障排查，快速識(shí)別損壞芯片。
- 研發(fā)驗(yàn)證：輔助開發(fā)階段的功能驗(yàn)證與時(shí)序分析。
4. 擴(kuò)展性與兼容性
- 開放式數(shù)據(jù)庫(kù)：允許用戶自定義添加新芯片參數(shù)，適應(yīng)不同型號(hào)的測(cè)試需求3。
- 緊湊設(shè)計(jì)：設(shè)備體積為350×350×90mm（寬×深×高），重量約4.7kg，便于移動(dòng)與部署5。
該產(chǎn)品通過(guò)平衡性能與易用性，為電子行業(yè)提供了一種可靠的測(cè)試解決方案，適用于教育、工業(yè)檢測(cè)及技術(shù)研究等多領(lǐng)域。其設(shè)計(jì)注重實(shí)用性，例如圖形化顯示功能可幫助用戶快速定位時(shí)序異常，而多規(guī)模芯片支持則增強(qiáng)了設(shè)備泛用性13。
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