Probe EN3探頭
上海雙旭Probe EN3探頭產(chǎn)品概述
EN3探頭是上海雙旭研發(fā)的一款專業(yè)檢測工具,適用于工業(yè)環(huán)境中的精密測量需求。該產(chǎn)品采用模塊化設計,可適配多種檢測設備,在電子元器件、材料分析等領(lǐng)域具有廣泛適用性。
核心特點
-
精度控制:通過優(yōu)化傳感結(jié)構(gòu),實現(xiàn)微米級測量穩(wěn)定性,減少環(huán)境干擾帶來的數(shù)據(jù)波動。
-
耐久設計:主體采用特種合金材質(zhì),配合防腐蝕涂層工藝,延長在復雜工況下的使用壽命。
-
兼容性強:支持多種信號接口協(xié)議,可快速接入主流檢測系統(tǒng),降低設備更新成本。
-
操作便捷:人性化握柄設計配合智能校準功能,簡化操作流程,提升工作效率。
典型應用場景
-
半導體晶圓厚度測量
-
PCB板線路導通檢測
-
精密機械部件尺寸校驗
-
實驗室材料表面分析
服務支持
提供專業(yè)技術(shù)咨詢與定制化解決方案,可根據(jù)用戶實際需求調(diào)整探頭參數(shù)配置。
上一篇 上海精科電子天平JH5101臨澤參數(shù) http://www.sunkiss.cc/product/d33796.html |