Probe EN3探頭
EN3探頭是上海雙旭研發的一款專業檢測工具，適用于工業環境中的精密測量需求。該產品采用模塊化設計，可適配多種檢測設備，在電子元器件、材料分析等領域具有廣泛適用性。
精度控制：通過優化傳感結構，實現微米級測量穩定性，減少環境干擾帶來的數據波動。
耐久設計：主體采用特種合金材質，配合防腐蝕涂層工藝，延長在復雜工況下的使用壽命。
兼容性強：支持多種信號接口協議，可快速接入主流檢測系統，降低設備更新成本。
操作便捷：人性化握柄設計配合智能校準功能，簡化操作流程，提升工作效率。
半導體晶圓厚度測量
PCB板線路導通檢測
精密機械部件尺寸校驗
實驗室材料表面分析
提供專業技術咨詢與定制化解決方案，可根據用戶實際需求調整探頭參數配置。
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