新標(biāo)準(zhǔn)NB/T47013.3-2015 CSK-IIA-1/IIA-2/IIA-3超聲波檢測(cè)試塊
上海雙旭 NB/T47013.3-2015 CSK-IIA系列超聲波檢測(cè)試塊
產(chǎn)品概述
CSK-IIA系列試塊是根據(jù)中華人民共和國(guó)能源行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)NB/T47013.3-2015《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 第3部分：超聲檢測(cè)》設(shè)計(jì)制造的標(biāo)準(zhǔn)試塊。該系列試塊主要用于超聲波檢測(cè)儀器的性能測(cè)試、探頭性能校準(zhǔn)以及檢測(cè)系統(tǒng)的綜合性能驗(yàn)證，是承壓設(shè)備制造、安裝和在役檢驗(yàn)中超聲波檢測(cè)的關(guān)鍵計(jì)量器具。
產(chǎn)品參數(shù)
- 標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)：NB/T47013.3-2015 (替代原JB/T4730.3-2005)
- 試塊型號(hào)：CSK-IIA-1, CSK-IIA-2, CSK-IIA-3
- 主要材料：優(yōu)質(zhì)碳鋼或低合金鋼（如20#鋼），經(jīng)正火處理，晶粒度7~8級(jí)。
- 表面狀態(tài)：檢測(cè)面及反射面粗糙度Ra ≤ 0.8μm，其余面Ra ≤ 1.6μm。
- 主要用途：
- CSK-IIA-1： 主要用于測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)、折射角（K值）和調(diào)整檢測(cè)范圍（時(shí)基線(xiàn)比例）。
- CSK-IIA-2/IIA-3： 除具備IIA-1功能外，主要用于繪制距離-波幅曲線(xiàn)（DAC曲線(xiàn)），評(píng)估檢測(cè)靈敏度及測(cè)定探頭與儀器的組合性能。
- 關(guān)鍵尺寸特征：
- 均包含R50和R100的圓弧反射面。
- 包含不同深度的φ1.5×20橫孔（如IIA-2/IIA-3）。
- 試塊厚度（高度）通常為50mm或根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。
使用注意事項(xiàng)
- 使用前檢查：使用前應(yīng)檢查試塊外觀(guān)，確認(rèn)無(wú)銹蝕、磨損、磕碰傷，特別是各反射體的反射面及檢測(cè)面。如有油污需清潔。
- 耦合劑：使用時(shí)需施加合適的耦合劑（如機(jī)油、甘油、漿糊等），并確保耦合良好、穩(wěn)定。
- 操作規(guī)范：探頭在試塊上移動(dòng)時(shí)應(yīng)平穩(wěn)、壓力均勻，避免劃傷試塊表面。測(cè)定入射點(diǎn)和折射角時(shí)，探頭應(yīng)沿圓弧面中心線(xiàn)前后移動(dòng)尋找最高回波。
- 環(huán)境與保養(yǎng)：試塊應(yīng)在溫度適宜的環(huán)境下使用，避免高溫、低溫影響聲速。使用后應(yīng)及時(shí)擦凈耦合劑，涂覆防銹油，置于干燥環(huán)境中保存。
- 定期檢定：試塊屬于計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器具，應(yīng)按照相關(guān)計(jì)量規(guī)程或標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行定期檢定或校準(zhǔn)，以確保其尺寸和聲學(xué)性能的準(zhǔn)確性。通常檢定周期為一年。
- 區(qū)分型號(hào)：注意CSK-IIA-2與CSK-IIA-3在橫孔深度上的區(qū)別，應(yīng)根據(jù)檢測(cè)板厚范圍選擇合適的試塊繪制DAC曲線(xiàn)。
- 禁止他用：嚴(yán)禁將試塊作為其他工具的代用品（如敲擊、墊塊等），防止其變形或損傷。
備注
NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)中的CSK-IIA系列試塊與原JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)中的CSK-IIA系列在設(shè)計(jì)和用途上基本一致，具有延續(xù)性。具體尺寸參數(shù)及橫孔位置請(qǐng)嚴(yán)格參照NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)附錄A中的圖紙規(guī)定。
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