超聲波探傷儀斜探頭K1/K2/K3斜探頭|直探頭|雙晶探頭|探頭連接線
上海雙旭超聲波探傷儀探頭介紹
一、斜探頭系列
產品概述：斜探頭利用折射橫波進行檢測，主要用于焊縫、管材等檢測，通過改變入射角（K值）來適應不同厚度和方向的缺陷。
產品參數：
- K1斜探頭：折射角約45°，常用頻率2.5MHz/5MHz，晶片尺寸8×9 mm、10×12 mm等。
- K2斜探頭：折射角約63°，常用頻率2.5MHz/5MHz，晶片尺寸8×9 mm、10×12 mm等。
- K3斜探頭：折射角約72°，常用頻率2.5MHz/5MHz，晶片尺寸8×9 mm、10×12 mm等。
- 接口類型：Q9、LEMO等標準接口。
- 工作溫度：-20℃ ~ 50℃。
使用注意事項：
- 使用前需校準探頭K值和前沿，確保角度準確。
- 檢測時需保持探頭與工件耦合良好，使用足量耦合劑。
- 避免探頭磕碰，防止壓電晶片損壞。
- 不同K值探頭適用于不同厚度工件，需根據標準選擇。
二、直探頭
產品概述：直探頭產生縱波垂直入射，用于檢測與探測面平行的缺陷，如板材、鍛件等。
產品參數：
- 頻率范圍：1MHz ~ 10MHz（常用2.5MHz、5MHz）。
- 晶片尺寸：Φ10 mm、Φ14 mm、Φ20 mm等。
- 接口類型：Q9、LEMO等標準接口。
- 工作溫度：-20℃ ~ 50℃。
使用注意事項：
- 檢測前需進行零點校準和靈敏度校準。
- 確保探測面平整光滑，耦合劑涂抹均勻。
- 避免長時間在高溫環境下使用，防止晶片老化。
- 探頭線應避免過度彎折，防止信號衰減。
三、雙晶探頭
產品概述：雙晶探頭采用一發一收雙晶片設計，聚焦能力強，盲區小，適用于薄板、近表面缺陷檢測。
產品參數：
- 頻率范圍：2.5MHz ~ 10MHz。
- 晶片尺寸：6×6 mm、8×8 mm等。
- 聚焦范圍：可根據工件厚度定制。
- 接口類型：Q9、LEMO等標準雙頭接口。
- 工作溫度：-20℃ ~ 50℃。
使用注意事項：
- 需根據工件厚度選擇合適聚焦范圍的探頭。
- 檢測時需保持兩晶片連線與缺陷方向垂直以獲得最佳信號。
- 耦合劑用量需適中，避免層間信號干擾。
- 探頭前沿磨損會影響聚焦性能，需定期檢查。
四、探頭連接線
產品概述：用于連接探頭與超聲波探傷儀主機，傳輸高頻電信號，要求屏蔽性好、衰減低。
產品參數：
- 接口類型：Q9-Q9、LEMO-LEMO、Q9-LEMO等。
- 線纜長度：1m、1.5m、2m、3m等常規長度，可定制。
- 屏蔽層：雙層屏蔽，抗干擾能力強。
- 阻抗：50Ω或75Ω，需與儀器探頭匹配。
- 工作溫度：-30℃ ~ 70℃。
使用注意事項：
- 連接前確保儀器關機，防止插拔電弧損壞接口。
- 使用時避免線纜嚴重彎折或扭曲，防止內部斷裂。
- 定期檢查接口是否松動、氧化，確保接觸良好。
- 不同阻抗線纜不可混用，以免造成信號失真。
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