美國磁通QQI磁粉試片磁粉探傷試片ASME標準試片磁場指示器咨詢
上海雙旭美國磁通QQI磁粉試片（磁場指示器）咨詢介紹
產品概述
本產品為上海雙旭代理的美國磁通（Magnaflux）品牌QQI磁粉試片，亦稱磁場指示器或ASME標準試片。主要用于磁粉探傷過程中，快速、直觀地評估被檢工件表面磁場強度與方向是否滿足探傷要求，是驗證磁化工藝有效性的關鍵工具。
產品參數
- 產品型號：常見型號如 QQI-10、QQI-15、QQI-30（數字代表試片外徑，單位：毫米）。
- 符合標準：符合ASME SE-709、ASTM E709、ASME BPVC Section V 等標準要求。
- 結構：通常為八角形（或圓形）薄片，由惰性基片（如聚酯薄膜）上附著網格狀高導磁性金屬箔（如純鐵）構成。
- 靈敏度：提供不同靈敏度等級（如高、中、低），以模擬不同尺寸的缺陷。
- 用途：用于中心導體法、線圈法、磁軛法等多種磁化方式的工藝驗證。
使用注意事項
- 表面接觸：使用時應確保試片有金屬箔的一面與工件表面緊密貼合，可用膠帶固定，避免空氣間隙影響顯示。
- 放置位置：應放置在預期磁場最弱或最關鍵的檢測區域，且每次驗證的位置和方向應具有代表性。
- 磁化操作：在施加磁粉（濕法或干法）前或同時進行磁化。觀察試片上金屬箔線處磁粉堆積形成的清晰度與連續性，以判斷磁場是否充足。
- 清潔與保養：使用后應小心清潔試片，去除殘留磁粉，檢查其是否損壞或變形。避免折疊或刮傷金屬箔部分。
- 標準遵循：具體使用頻率、驗收準則（如需要顯示多少條磁痕）應嚴格遵循內部工藝規程或相關行業標準（如ASME）的規定。
- 局限性：該試片主要用于驗證磁場方向和相對強度，不能精確量化磁場值，也不能替代標準試塊（如A型試塊）進行系統綜合性能測試。
咨詢與選型建議
在選擇具體型號和靈敏度時，需根據被檢工件的材料、形狀、尺寸以及所采用的磁化方法和驗收標準來確定。建議提供詳細的檢測要求，以便推薦最適用的產品。
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