新標(biāo)準(zhǔn)DB-D1a試塊 DB-D1b試塊 階梯試塊 標(biāo)準(zhǔn)試塊
上海雙旭標(biāo)準(zhǔn)試塊產(chǎn)品介紹
DB-D1a試塊
產(chǎn)品參數(shù)：
- 材質(zhì)：通常為20#鋼或45#鋼，經(jīng)精密加工與熱處理。
- 標(biāo)準(zhǔn)：符合JB/T 10063-1999《超聲探傷用1號標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件》或相關(guān)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
- 主要特征：包含一組不同深度（如Φ2x200mm平底孔）的人工反射體，用于測定探傷儀和探頭的組合性能，如靈敏度、分辨力、盲區(qū)等。
- 典型尺寸：長約250mm，寬約50mm，厚度約20mm（具體尺寸以實物為準(zhǔn)）。
使用注意事項：
- 使用前需清潔試塊表面，確保耦合良好。
- 避免磕碰、劃傷，防止人工缺陷（平底孔）變形或堵塞。
- 定期校驗，確保其尺寸和聲學(xué)性能的準(zhǔn)確性。
- 使用后應(yīng)涂防銹油，存放于干燥、無腐蝕的環(huán)境中。
DB-D1b試塊
產(chǎn)品參數(shù)：
- 材質(zhì)：與DB-D1a類似，多為優(yōu)質(zhì)碳素鋼。
- 標(biāo)準(zhǔn)：同樣遵循JB/T 10063等國內(nèi)超聲探傷標(biāo)準(zhǔn)。
- 主要特征：是DB-D1a的變體，通常區(qū)別在于人工反射體的位置、深度或類型（例如可能包含橫孔），用于特定性能測試或?qū)Ρ取?/li>
- 典型尺寸：與DB-D1a試塊相近，具體設(shè)計根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)版本而定。
使用注意事項：
- 注意事項同DB-D1a，需特別注意其與DB-D1a在用途上的區(qū)別，避免誤用。
- 明確其校準(zhǔn)的具體項目（如斜探頭的入射點、折射角等）。
階梯試塊
產(chǎn)品參數(shù)：
- 材質(zhì)：通常為不銹鋼或工具鋼，具有良好的尺寸穩(wěn)定性。
- 標(biāo)準(zhǔn)：符合GB/T 11259、ASTM E428等國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)。
- 主要特征：具有一系列已知高度差的階梯狀平面，用于校準(zhǔn)超聲波測厚儀的線性度、測量精度和聲速設(shè)置。
- 典型尺寸：包含多個臺階（如從1.0mm到25.0mm），每個臺階的厚度值精確標(biāo)定。
使用注意事項：
- 使用前確保臺階表面清潔、無毛刺和油污。
- 探頭放置需平穩(wěn)，耦合劑適量，以獲得穩(wěn)定讀數(shù)。
- 避免在臺階邊緣進行測量，應(yīng)在臺階中心區(qū)域操作。
- 定期用更高等級的量具（如千分尺）校驗臺階的實際厚度。
標(biāo)準(zhǔn)試塊（泛指）
產(chǎn)品參數(shù)：
- 材質(zhì)與類型：種類繁多，包括但不限于：CSK系列（如CSK-IA、CSK-IIIA）合金試塊、RW系列（如RW-75）對比試塊、以及各種平底孔、橫孔、槽型試塊。
- 標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)不同檢測標(biāo)準(zhǔn)（如JB/T, GB/T, ASTM, ISO, DIN）制造。
- 主要特征：具有精確已知尺寸、形狀和位置的人工缺陷，用于校準(zhǔn)檢測設(shè)備的靈敏度、分辨率、聲束特性，以及制作距離-波幅曲線（DAC/TCG）。
使用注意事項：
- 明確用途：根據(jù)檢測標(biāo)準(zhǔn)和工藝要求選擇正確的試塊類型。
- 妥善保管：作為計量基準(zhǔn)，應(yīng)輕拿輕放，防止銹蝕和機械損傷。
- 定期檢定：需按周期送至有資質(zhì)的計量機構(gòu)進行檢定，確保其計量溯源性。
- 環(huán)境控制：存放和使用環(huán)境應(yīng)避免溫度劇烈變化，以免影響材料聲速和尺寸。
- 耦合一致性：在校準(zhǔn)和實際檢測中，應(yīng)使用相同類型和量的耦合劑，以減少誤差。
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